  |
Елементи, в яких автор: "Goh, C. F."
Група по: Тип елементу | Немає групування Число елементів: 1. Goh, C. F., Gan, Z. H., Mhaisalkar, S. G., Boey, F. Y. C., Gusak, A. M., Teo, P. S. (2006) Modeling of smoothening effect on morphologies of annealed submicron nickel particles used for electrically conductive adhesives. American Institute of Physics (№ 100). с. 1-5. |
