Елементи, в яких автор: "Tian, T."
Група по: Тип елементу | Немає групування Перейти до: Стаття Число елементів: 1. СтаттяTian, T., Gusak, A. M., Liashenko, O.Yu., Han, J.-K., Choi, D., Tu, K. N. (2012) A New Physical Model for Life Time Prediction of Pb-free Solder Joints in Electromigration Tests. IEEE. с. 741-746. |