  |
Елементи, в яких автор: "Jing, S."
Група по: Тип елементу | Немає групування Перейти до: Стаття Число елементів: 1. СтаттяLiu, Y., Гусак, А. М., Jing, S., Tu, K. N. (2022) Fast prediction of electromigration lifetime with modified mean-time-to-failure equation. Materials Letters, 325. с. 1-3. |
