Елементи, в яких автор: "Gan, Z."

Стаття

Gan, Z., Gusak, A. M., Shao, W., Chen, Z., Mhaisalkar, S.G., Zaporozhets, T., Tu, K. N. (2007) Analytical modeling of reservoir effect on electromigration in Cu interconnects. Journal of Materials Research, Т. 22 (№ 1). с. 152-158.