Структурний стан гальваноосаджених прошарків міді

Морозович, В. В. and Король, Я. Д. and Ляшенко, Ю. О. (2018) Структурний стан гальваноосаджених прошарків міді. Вісник Черкаського університету. Серія «Фізико-математичні науки» (№ 1). pp. 50-59.

[img] Text
ror_lyash.pdf

Download (443kB)

Abstract

Методами рентгенівського дифракційного аналізу досліджено мікроструктуру прошарків міді, що отримані електроосадженням міді в стаціонарному, реверсному імпульсному та стохастичному режимах на мідні підкладки. Встановлено суттєвий вплив форми струму на текстуру осаджених прошарків міді. Було встановлено, що більш просторово однорідну структуру має осад, що отриманий в реверсному імпульсному режимі лектроосадження. За постійного струму електроосадження формуються кристали з більш дефектною структурою. За допомогою аналізу уширення дифракційних ліній визначено розміри областей когерентного розсіювання в прошарках, що отримані за різних режимів струму. Також встановлено, що після електролітичного осадження міді розмір зерен зменшується, порівняно з розмірами зерен в полікристалічній мідній підкладці.

Item Type: Article
Uncontrolled Keywords: електроосадження ; рентгеноструктурний аналіз ; мідь ; області когерентного розсіювання
Subjects: Фізико-математичні науки
Divisions: Навчально-науковий інститут інформаційних та освітніх технологій
Depositing User: Наукова Бібліотека
Date Deposited: 28 Feb 2023 10:46
Last Modified: 28 Feb 2023 10:46
URI: https://eprints.cdu.edu.ua/id/eprint/5224

Actions (login required)

View Item View Item