Інституційний репозитарій Черкаського національного університету імені Богдана Хмельницького

Елементи, в яких автор: "Krishnamoorthy, A."

Вгору на рівень
Експорт в [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Група по: Тип елементу | Немає групування
Число елементів: 2.

Vairagar, A. V., Mhaisalkar, S. G., Meyer, M. A., Krishnamoorthy, A., Zschech, E, Gusak, A. M. (2005) Direct evidence of electromigration failure mechanism in dual-damascene Cu interconnect tree structures. Applied physics letters, Т. 87 (№ 1). с. 1-3.

Vairagara, A. V., Krishnamoorthy, A., Tu, K. N., Gusak, A. M., Meyer, M. A. M., Zschech, E., Mhaisalkar, S. G., Zschech, E. (2004) In situ observation of electromigration-induced void migration in dual-damascene Cu interconnect structures. Applied physics letters, Т. 85 (№ 13). с. 2502-2505.

Цей список був створений у Thu Mar 28 14:39:39 2024 EET.