Tu, K. N., Gusak, A. M. (2019) A unified model of mean-time-to-failure for electromigration, thermomigration, and stress-migration based on entropy production. Journal of Applied Physics (№ 126). с. 1-19.
|
Text
_pdf_archive_japiau_vol_126_iss_7_075109_1_am (1).pdf Download (520kB) | Перегляд |
Резюме
We have revisited Black's equation of mean-time-to-failure (MTTF) for electromigration from the viewpoint that in irreversible processes, entropy production is the controlling behavior. We justify that the power factor on current density is n = 2, as given in the original Black's equation. Furthermore, on the basis of entropy production, we provide a unified model of MTTF for thermomigration and stress-migration. We note that up to now, no MTTF for thermomigration and stress-migration is given.
| Тип елементу : | Стаття |
|---|---|
| Неконтрольовані ключові слова: | electromigration ; thermomigration ; stress-migration ; production |
| Теми: | Фізико-математичні науки |
| Підрозділи: | Навчально-науковий інститут інформаційних та освітніх технологій |
| Користувач, що депонує: | Наукова Бібліотека |
| Дата внесення: | 16 Квіт 2020 18:16 |
| Останні зміни: | 16 Квіт 2020 18:16 |
| URI: | https://eprints.cdu.edu.ua/id/eprint/2078 |
Actions (login required)
 |
Перегляд елементу |
