Структурний стан гальваноосаджених прошарків міді

Морозович, В. В., Король, Я. Д., Ляшенко, Ю. О. (2018) Структурний стан гальваноосаджених прошарків міді. Вісник Черкаського університету. Серія «Фізико-математичні науки» (№ 1). с. 50-59.

Text ror_lyash.pdf Download (443kB)

Резюме

Методами рентгенівського дифракційного аналізу досліджено мікроструктуру прошарків міді, що отримані електроосадженням міді в стаціонарному, реверсному імпульсному та стохастичному режимах на мідні підкладки. Встановлено суттєвий вплив форми струму на текстуру осаджених прошарків міді. Було встановлено, що більш просторово однорідну структуру має осад, що отриманий в реверсному імпульсному режимі лектроосадження. За постійного струму електроосадження формуються кристали з більш дефектною структурою. За допомогою аналізу уширення дифракційних ліній визначено розміри областей когерентного розсіювання в прошарках, що отримані за різних режимів струму. Також встановлено, що після електролітичного осадження міді розмір зерен зменшується, порівняно з розмірами зерен в полікристалічній мідній підкладці.

Actions (login required)

Перегляд елементу