Інституційний репозитарій Черкаського національного університету імені Богдана Хмельницького

Вплив товщини прошарку нікелюна швидкість росту фаз Cu3Sn+ Cu6Sn5 у системі Cu-Sn

Краснюк, М. О., Татарчук, Є. В. (2019) Вплив товщини прошарку нікелюна швидкість росту фаз Cu3Sn+ Cu6Sn5 у системі Cu-Sn. Актуальні проблеми природничих і гуманітарних наук у дослідженнях молодих учених «Родзинка – 2019» / XXІ Всеукраїнська наукова конференція молодих учених. с. 241-242.

[img]
Перегляд
Text
rodzinka_2019 -241-242.pdf

Download (728kB) | Перегляд

Резюме

Дана робота присвячена експериментальному дослідженню впливу товщини прошарку нікелю, електролітично осадженого на поверхню міді, на швидкість росту фаз Cu3Sn+Cu6Sn5.

Тип елементу : Стаття
Неконтрольовані ключові слова: мікросхеми ; мідь ; фази Cu3Sn+Cu6Sn5 ; нікель
Теми: Фізико-математичні науки
Підрозділи: Навчально-науковий інститут інформаційних та освітніх технологій
Користувач, що депонує: Наукова Бібліотека
Дата внесення: 05 Черв 2020 10:23
Останні зміни: 05 Черв 2020 10:24
URI: https://eprints.cdu.edu.ua/id/eprint/3550

Actions (login required)

Перегляд елементу Перегляд елементу